維將科技USB RFI (USB3.2 RFI System-Level Test)解決方案
隨著Type-C的普及，USB-IF制定了與USB通信相關的新雜訊標準。
它就是 USB3.2 RFI System-Level Test（RFI Test）。
這套標準考慮到了USB3.2通信過程中的雜訊對周圍的滑鼠和耳機等無線設備產生干擾並導致誤動作的問題。這樣的干擾問題近年來變得越來越明顯，各電子設備製造商都在根據自己的指標致力提高品質。迄今為止的通信品質關注一直基於各製造商的判斷，但對USB產生的雜訊需要規定一定水準，此為本此次USB-IF 制定標準的目的。

本標準的物件設備含擴PC & PC周邊、平板電腦、智慧手機、HUB 等，具有Type-C連接器並支援5 Gbps或更高速度的設備。由此，為了獲得Type-C的USB標誌認證並讓設備出廠，就需要達到本標準規定的水準。

※使用Type-A等以前的連接器標準時也會出現干擾問題，但不屬於本標準的物件。

• 標準機構：USB-IF
• 物件設備：PC & PC周邊、平板電腦、智慧手機、擴展塢等

（配備Type-C連接器並支援5Gbps或更高的速度）

RFI Test 概要

RFI Test使用RFI System-Level Test Fixture（以下簡稱Fixture）進行測試。
該Fixture是USB-IF定義的官方製具，可將Type-C連接器轉換為SMA。測試系統將Fixture插入待測物件(EUT)的Type-C插座中，並通過同軸電纜連接到頻譜分析儀，如下圖所示。此時，Fixture和待測物件(EUT)設置在電波暗箱中。此時，從待測物件(EUT)發出測試信號，對頻譜分析儀觀測到的雜訊是否滿足限制值進行判斷。

*USB RFI System Level Test Fixture:

由於這是迄今為止尚未制定雜訊管制標準的領域，且限制值嚴苛，各電子設備製造商的常規設計無法滿足標準，並且會出現新的雜訊問題。因此，本公司提供針對此RFI Test的連接器如USB C, USB A, USB B, HDMI, DP, RJ-45 & SD connector 系列及引進該標準的測量設備，並致力於協助客戶對應RFI Test的解決方案。
 

RFI 產生原因:
1. 系統 I/O Connector ⇒ PCB線路 ⇒ IC ⇒ PCB線路 ⇒ Downstream USB C Connector

    *特性阻抗不匹配, PCB穿層貫孔, Skew 不等長等因素
2. System GND noise.
 

RFI 改善方法:
1. 採用VGT Low EMI/RFI 單排 Pin connector

    *VGT Low EMI/RFI USB C Connector solder pin 排列方式  GSSVGSSV 

2. 高速差動訊號對, 減少穿層貫孔

3. 線路特性阻抗匹配

尚有其他重要改善方法, 如有需要協助, 請與我司聯繫

客戶服務:
採用我司Connector 產品, 維將可協助USB3.2 RFI System-Level Test測試及解決RFI 問題
 

協助國際知名大廠Monitor成功案例:
* UPSTREAM: USB C & DOWNSTREAM: USB C
 
* UPSTREAM: USB B & DOWNSTREAM: USB C